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關于華嶺

公司新聞|Company News

關于2019年上海市科學技術獎提名項目的公示

 

根據《關于開展2019年度上海市科學技術獎提名工作的通知》(滬科【2019119號)文件的要求,現將我公司申報2019年度上海市科學技術獎項目的基本信息予以公示。公示期為201957日至2019514日。

公示期內,如任何單位或個人對公布的內容持有異議,請以書面形式實名(注明通訊地址和聯系方式)向本公司提出,并提供必要的證據材料,以便于核實查證。單位提出異議時,應當在異議材料上加蓋本單位公章;個人提出異議時,應當在異議材料上簽署本人真實姓名,我公司對異議人身份和反映情況予以保密。凡匿名、冒名和超出期限的異議不予受理。

聯系人:羅斌

電話:021-50278215-374

通訊地址:上海浦東新區郭守敬路3512號樓2

郵編:201203

 

 

上海華嶺集成電路技術股份有限公司

二零一九年五月六日

 

 

 

 

推薦項目基本情況

一、項目名稱:面向高可靠領域自主測試關鍵技術創新及產業化平臺

二、項目簡介:為推動我國集成電路制造產業的發展,提升我國集成電路制造裝備、工藝及材料技術的自主創新能力,根據“XXX核心電子器件評價與檢測技術”國家科技重大專項指南,公司立項開展擁有我國自主知識產權的面向高可靠領域自主測試關鍵技術創新及產業化平臺建設,通過研發先進的測試技術,形成封裝與測試一體化的服務能力,滿足國內自主產品工藝的測試需求。

1、重大技術創新簡介

本項目系面向高可靠領域自主測試關鍵技術創新及產業化應用項目,基于國家核高基重大專項項目“XXXX 電子器件評價與檢測技術”項目的測試技術及產業化測試應用基礎,為推動我國集成電路產業國產化進程、軍民融合創新發展,不斷提升我國集成電路應用的國產化率,根據國家核高基重大專項項目指南及微電子產業與航天工程、國防緊密結合的目標,立項開展面向高可靠領域自主測試關鍵技術創新及產業化應用研究,建立國內領先的適應航天航空S級品質10級超潔凈的產業化測試平臺,為國內軍民領域的高可靠領域芯片提供完整的測試技術服務,推動上海及我國的“深入實施軍民融合發展戰略、形成軍民融合深度發展格局”戰略發展。

項目主要技術創新點:四大突破性技術革新:1、在國內面向高可靠集成電路測試領域,建立第一家適應航天航空S級品質10級超潔凈的自主可控測試平臺,實現相關器件的自主安全可控測試驗證,填補國內空白;2、探索物理安全、應用安全、自主可控的測試關鍵技術和環境建設,率先解決了不同寬溫測試環境差異和數據比對,實現覆蓋-55°C~150°C的全過程寬溫測試自動測試,提供自動溫度控制、自動標號識別、自動異常品質管控等創新技術,滿足面向高可靠領域應用芯片測試需求;3、突破了從百萬門級、300萬門級、600萬門級高性能芯片測試提升到1000萬門級以及6000萬門級高端芯片全功能性能測試技術研究及應用,實現測試覆蓋率由最高80%提升到95%以上;4、應用軍民融合共用技術開發、技術相互轉化和推廣的創新模式,完成建立自主可控、開放性、技術指標國內領先的軍民融合測試平臺,為國防軍工領域、民用領域從事集成電路設計、制造、封裝及應用等企事業及科研院提供先進的測試技術服務。

項目關鍵技術創新:1) 軍民融合測試創新應用技術;2)高速吉比特接口誤碼率測試技術;3)      基于部分動態重構的碼流壓縮技術;4) 內嵌DSP測試向量深度壓縮技術;5)互聯網絡高覆蓋率測試技術;6)自適應測試(內部環回自測試)技術;7)寬溫測試軟硬件技術研發、高速高密度測試硬件設計技術(晶圓級10Gsps、成品級28Gsps數據速率的以內“AC”和“At-speed”測試)。

2、技術應用情況

本項目技術成熟,完成建立的面向高可靠領域自主測試關鍵技術創新及產業化平臺擁有GJB9001認證、CNAS 檢測實驗室、CMA計量認證、XX三級保密資質、ISO14001環境認證、知識產權管理體系、XX裝備承制單位資格認證等資質,完成申請了12項技術發明專利(其中授權專利6項,國際授權1項)、獲得國家軟件著作權12項。軍民融合測試平臺具備年產能超過20萬片,每年測試年產量達到4億顆,技術指標在行業內處于國內領先水平,且屬于自主可控、開放性平臺。本項目為國家01、02、03科技重大專項及上海戰新項目等單位課題提供了測試技術服務,同時為國內70多家100多項軍民融合產品提供芯片測試驗證分析和產業化生產測試服務。憑借本項目的研發使得公司技術服務產值增加37856.04萬元,上交國家稅收1969.61萬元,凈利潤12421.02萬元。實現了較好的社會效益和經濟效益。

三、知識產權情況

國別

知識產權類別

授權號

名稱

國際

發明專利

GB2547874

Configuration and testing method and system for FPGA chip using bumping process

中國

發明專利

ZL200910200706.1

FPGA配置文件的生成方法

中國

發明專利

ZL201010123404.1

FPGA配置器件ATE測試方法

中國

發明專利

ZL201010216532.0

尋找FPGA配置文件與CLB塊配置資源的映射方法

中國

發明專利

ZL201410597407.7

IP硬核無損測試結構及其實現方法

中國

發明專利

ZL201510908298.0

可提高激勵信號信噪比的測試系統

中國

計算機軟件著作權

2009SR02344

華嶺FPGA測試軟件V1.0

中國

計算機軟件著作權

2015SR184490

華嶺600萬門SRAMFPGA測試軟件V1.0

中國

計算機軟件著作權

2017SR007774

華嶺Solder bump FPGA芯片凸點晶圓測試軟件V1.0

四、主要完成單位:上海華嶺集成電路技術股份有限公司

五、主要完成人:張志勇、劉遠華、湯雪飛、葉守銀、祁建華、羅斌、余琨、王華、邵嘉陽、王玉龍

六、提名者:浦東新區科經委

七、提名等級:不限

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